X-ray inspection apparatus for inspecting semiconductor wafers

WO2015153847 Art A1 8. Oktober 2015

Anmelder: Nordson Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2015153847
Aktenzeichen
EP15773785
Anmeldetag
2. April 2015
Veröffentlichung
8. Oktober 2015
Rechtsraum
WO
IPC
G03C5/16
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Nordson Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Nordson

Nordson ist ein US-amerikanischer Hersteller von Präzisionsdosier- und Auftragssystemen für die industrielle Fertigung. Das Portfolio konzentriert sich auf Verfahrens- und Trenntechnik, ergänzt durch Kunststofftechnik, Verpackung sowie Mess- und Prüfsysteme, etwa für die Röntgeninspektion von Bauteilen. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

871 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen