System and method for diagnosing defects in random flow systems
WO2015157641
Art A1
15. Oktober 2015
Anmelder: University of Florida Research Foundation, Inc., Sentinel Diagnostic Imaging Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015157641
- Aktenzeichen
- EP15777115
- Anmeldetag
- 10. April 2015
- Veröffentlichung
- 15. Oktober 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06K9/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- University of Florida Research Foundation, Inc.
Sentinel Diagnostic Imaging Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
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