Testing Integrated Circuits During Split Fabrication

WO2015160405 Art A2 22. Oktober 2015

Anmelder: Carnegie Mellon University 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015160405
Aktenzeichen: EP15780735
Anmeldetag: 21. Januar 2015
Veröffentlichung: 22. Oktober 2015
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/77

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Carnegie Mellon University
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Carnegie Mellon University

Carnegie Mellon University ist eine private US-Universität mit Sitz in Pittsburgh, bekannt für Informatik- und Ingenieurforschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Medizintechnik und Mess-/Prüftechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

726 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von