Apparatus and method for detecting narrow groove of specular reflection workpiece
WO2015172485
Art A1
19. November 2015
Anmelder: Tsinghua University 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015172485
- Aktenzeichen
- EP14891866
- Anmeldetag
- 18. September 2014
- Veröffentlichung
- 19. November 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B23K9/127G01B11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tsinghua University
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Tsinghua University
Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.
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