Sic epitaxial wafer, apparatus for producing sic epitaxial wafer, method for producing sic epitaxial wafer, and semiconductor device
WO2015186791
Art A1
10. Dezember 2015
Anmelder: Rohm Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2015186791
- Aktenzeichen
- EP15803785
- Anmeldetag
- 4. Juni 2015
- Veröffentlichung
- 10. Dezember 2015
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/205H01L21/28H01L21/329H01L21/336H01L29/12H01L29/41H01L29/417H01L29/423H01L29/47H01L29/49H01L29/78H01L29/872
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Rohm Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Rohm
Japanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kyoto, spezialisiert auf integrierte Schaltkreise, diskrete Halbleiterbauelemente und Leistungshalbleiter (unter anderem Siliziumkarbid-Bauteile).
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