Diffraction grating and displacement measurement device

WO2015190296 Art A1 17. Dezember 2015

Anmelder: Enplas Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015190296
Aktenzeichen: EP15807537
Anmeldetag: 28. Mai 2015
Veröffentlichung: 17. Dezember 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G02B5/18G01B11/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Enplas Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Enplas

Enplas ist ein japanischer Hersteller optischer und feinmechanischer Kunststoffkomponenten, unter anderem für Displays, Steckverbinder und Halbleitertests. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Optik und Fototechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Mess- und Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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