Test circuit for integrated circuit, information processing device, and test method for integrated circuit

WO2015198367 Art A1 30. Dezember 2015

Anmelder: Fujitsu Limited 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2015198367
Aktenzeichen: EP14895580
Anmeldetag: 25. Juni 2014
Veröffentlichung: 30. Dezember 2015
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/22G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fujitsu Limited
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujitsu

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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