Analysis device and analysis method

WO2016006398 Art A1 14. Januar 2016

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016006398
Aktenzeichen: EP15819443
Anmeldetag: 17. Juni 2015
Veröffentlichung: 14. Januar 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N35/10G01N15/12G01N27/62G01N33/53

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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