Semiconductor inspection device and method of controlling semiconductor inspection device

WO2016009763 Art A1 21. Januar 2016

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016009763
Aktenzeichen: EP15822123
Anmeldetag: 15. Juni 2015
Veröffentlichung: 21. Januar 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01B11/30G01N21/88H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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