Method and apparatus for validating experimental data provided for transistor modeling

WO2016012904 Art A1 28. Januar 2016

Anmelder: Mimos Berhad 🇲🇾

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016012904
Aktenzeichen: EP15825312
Anmeldetag: 15. Juli 2015
Veröffentlichung: 28. Januar 2016
Rechtsraum: WO
IPC: H01L29/00H01L21/00H01L21/336H01L21/82H01L29/78

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Mimos Berhad
Land: 🇲🇾 Malaysia

🇲🇾 Mimos Berhad

Malaysisches staatliches Forschungsinstitut für Informations- und Kommunikationstechnologie mit Sitz in Kuala Lumpur. Die Patente decken Halbleitertechnik, Mikroelektronik und IT-Sicherheit ab.

929 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von