Work station including sample holder for cryogenic electron microscope for correlative imaging detection of light microscope and electron microscope, correlative imaging detection apparatus including same, and imaging detection method and imaging system using same

WO2016021745 Art A1 11. Februar 2016

Anmelder: Korea Basic Science Institute 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016021745
Aktenzeichen: EP14899515
Anmeldetag: 5. August 2014
Veröffentlichung: 11. Februar 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N1/28G01N1/42G02B21/28G02B21/34H01J37/26G01N23/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Basic Science Institute
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Basic Science Institute

Das Korea Basic Science Institute ist eine staatliche südkoreanische Forschungseinrichtung mit Sitz in Daejeon, die wissenschaftliche Geräte und Analytik für andere Forschungseinrichtungen bereitstellt. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Halbleiter- und Elektronikbauelemente. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2002 bis 2025 ab.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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