Manufacturing method for and reuse method of etching rate test control wafer

WO2016026174 Art A1 25. Februar 2016

Anmelder: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016026174
Aktenzeichen: EP14900225
Anmeldetag: 11. September 2014
Veröffentlichung: 25. Februar 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/42G03F7/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 China Star Optoelectronics (CSOT)

Chinesischer Displayhersteller mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft des TCL-Konzerns. CSOT entwickelt und produziert LCD- und OLED-Panels für Fernseher, Monitore und mobile Endgeräte.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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