Highly robust mark point decoding method and system
WO2016026349
Art A1
25. Februar 2016
Anmelder: Shenzhen University 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016026349
- Aktenzeichen
- EP15833475
- Anmeldetag
- 26. Juni 2015
- Veröffentlichung
- 25. Februar 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T9/00G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shenzhen University
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen University
Shenzhen University ist eine staatliche Universität in Shenzhen, China, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Elektrotechnik, Materialwissenschaft und Optik.
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