Correction Of Beam Hardening Artifacts in Microtomography For Samples Imaged in Containers
WO2016028655
Art A1
25. Februar 2016
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016028655
- Aktenzeichen
- EP15770673
- Anmeldetag
- 15. August 2015
- Veröffentlichung
- 25. Februar 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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