Pattern edge placement predictor and monitor for lithographic exposure tool
WO2016036790
Art A2
10. März 2016
Anmelder: Nikon Corporation, Tyminski, Jacek K. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016036790
- Aktenzeichen
- EP15837546
- Anmeldetag
- 2. September 2015
- Veröffentlichung
- 10. März 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/60
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Nikon Corporation
Tyminski, Jacek K. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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