X-ray generation device and x-ray analysis device

WO2016039091 Art A1 17. März 2016

Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016039091
Aktenzeichen: EP15840788
Anmeldetag: 18. August 2015
Veröffentlichung: 17. März 2016
Rechtsraum: WO
IPC: H01J35/10H01J35/28

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Rigaku Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

281 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von