Microscope measurement device and method using x-ray holography for large-area sample

WO2016043471 Art A1 24. März 2016

Anmelder: Institute for Basic Science, Gwangju Institute of Science and Technology 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016043471
Aktenzeichen: EP15841195
Anmeldetag: 9. September 2015
Veröffentlichung: 24. März 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20G01N23/207G03H5/00G01B15/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Institute for Basic Science
Gwangju Institute of Science and Technology
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Gwangju Institute of Science and Technology

Das Gwangju Institute of Science and Technology ist eine staatliche technische Hochschule in Südkorea mit Schwerpunkt auf Natur- und Ingenieurwissenschaften. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Medizintechnik, ergänzt durch Mess- und Prüftechnik sowie organische Chemie. Anmeldungen reichen von 2004 bis in die Gegenwart.

485 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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