Characterization of trace crystallinity by second harmonic generation microscopy
WO2016049623
Art A1
31. März 2016
Anmelder: Purdue Research Foundation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016049623
- Aktenzeichen
- EP15844714
- Anmeldetag
- 28. September 2015
- Veröffentlichung
- 31. März 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Purdue Research Foundation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Purdue Research Foundation
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