X-ray thin film inspection device

WO2016059672 Art A1 21. April 2016

Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016059672
Aktenzeichen: EP14904155
Anmeldetag: 14. Oktober 2014
Veröffentlichung: 21. April 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20G01N23/223

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Rigaku Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

281 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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