Chip for electrical measurement, and electrical measuring device

WO2016063858 Art A1 28. April 2016

Anmelder: National University Corporation Nagoya University, Osaka University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016063858
Aktenzeichen: EP15853432
Anmeldetag: 20. Oktober 2015
Veröffentlichung: 28. April 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N27/00G01N15/14G01N21/64

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: National University Corporation Nagoya University
Osaka University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Nagoya University

Japanische staatliche Universität mit umfangreicher Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin, unter anderem bekannt für Arbeiten zu LED-Technologie. Trägerin zahlreicher Patente aus Universitätsforschung in Japan.

702 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Osaka University

Staatliche Universität in Osaka, Japan, eine der führenden Forschungsuniversitäten des Landes mit Schwerpunkten in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.

1.047 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von