Quality estimation and improvement of imaging metrology targets
WO2016069520
Art A1
6. Mai 2016
Anmelder: KLA - Tencor Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016069520
- Aktenzeichen
- EP15855746
- Anmeldetag
- 27. Oktober 2015
- Veröffentlichung
- 6. Mai 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KLA - Tencor Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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