System for obtaining quantitative x-ray images using hilbert transform on imaged fringes

WO2016074864 Art A1 19. Mai 2016

Anmelder: PAUL SCHERRER INSTITUT 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016074864
Aktenzeichen: EP15778923
Anmeldetag: 9. Oktober 2015
Veröffentlichung: 19. Mai 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04G01N23/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: PAUL SCHERRER INSTITUT
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 PAUL Scherrer Institut

Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

393 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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