System and method for enhanced defect detection with a digital matched filter
WO2016077487
Art A1
19. Mai 2016
Anmelder: Kla-Tencor Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016077487
- Aktenzeichen
- EP15859022
- Anmeldetag
- 11. November 2015
- Veröffentlichung
- 19. Mai 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00G06T5/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kla-Tencor Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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