Three-dimensional shape measurement device, three-dimensional shape measurement method, structure production system, structure production method, and three-dimensional shape measurement program
WO2016084226
Art A1
2. Juni 2016
Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016084226
- Aktenzeichen
- EP14906772
- Anmeldetag
- 28. November 2014
- Veröffentlichung
- 2. Juni 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/25
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nikon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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