Methods&apparatus for obtaining diagnostic information relating to a lithographic manufacturing process, lithographic processing system including diagnostic apparatus
WO2016087069
Art A1
9. Juni 2016
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016087069
- Aktenzeichen
- EP15775648
- Anmeldetag
- 21. September 2015
- Veröffentlichung
- 9. Juni 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G03F1/84G01N21/95H01L21/66H01L21/67
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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Vertreten von
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