Method for measuring shape of free curved surface by using curvature value of local area

WO2016089045 Art A1 9. Juni 2016

Anmelder: Industry- Academic Cooperation Foundation of Kyungnam University, Korea Basic Science Institute 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016089045
Aktenzeichen: EP15864662
Anmeldetag: 27. November 2015
Veröffentlichung: 9. Juni 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/24G01B11/255G01B9/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Industry- Academic Cooperation Foundation of Kyungnam University
Korea Basic Science Institute
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Basic Science Institute

Das Korea Basic Science Institute ist eine staatliche südkoreanische Forschungseinrichtung mit Sitz in Daejeon, die wissenschaftliche Geräte und Analytik für andere Forschungseinrichtungen bereitstellt. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Halbleiter- und Elektronikbauelemente. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2002 bis 2025 ab.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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