Substrate inspection device and method

WO2016095517 Art A1 23. Juni 2016

Anmelder: BOE Technology Group Co., Ltd., Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co. Ltd 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2016095517
Aktenzeichen
EP15869028
Anmeldetag
17. Juli 2015
Veröffentlichung
23. Juni 2016
Rechtsraum
WO
IPC
G02F1/13
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
BOE Technology Group Co., Ltd.
Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co. Ltd
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 BOE Technology

Chinesischer Elektronikkonzern mit Sitz in Peking, entwickelt und fertigt Display-Technologien wie LCD- und OLED-Bildschirme für Endgeräte und Industrieanwendungen.

22.024 Patente in unserer Datenbank

🇨🇳 Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co., Ltd

Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology ist eine chinesische Tochtergesellschaft des Display-Herstellers BOE Technology mit Patenten zu Flachbildschirmen und Displaytechnik.

865 Patente in unserer Datenbank

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