X-ray inspection method and device

WO2016098795 Art A1 23. Juni 2016

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016098795
Aktenzeichen: EP15869997
Anmeldetag: 16. Dezember 2015
Veröffentlichung: 23. Juni 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04G01N23/083G01N23/18G01B15/00G01B15/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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