Wavefront distortion amount measurement device, wavefront correction device, and optical measurement device and method

WO2016104223 Art A1 30. Juni 2016

Anmelder: Riken 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016104223
Aktenzeichen: EP15872792
Anmeldetag: 14. Dezember 2015
Veröffentlichung: 30. Juni 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01M11/02G01J9/02G01N21/64G02F1/39

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Riken
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 RIKEN

Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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