Analysis method and analysis device

WO2016108267 Art A1 7. Juli 2016

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016108267
Aktenzeichen: EP15875393
Anmeldetag: 4. Dezember 2015
Veröffentlichung: 7. Juli 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N33/543G01N27/62

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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