Kelvin probe and kelvin inspection unit provided with same
WO2016111293
Art A1
14. Juli 2016
Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016111293
- Aktenzeichen
- EP16735032
- Anmeldetag
- 5. Januar 2016
- Veröffentlichung
- 14. Juli 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R1/073G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Omron Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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