Spectral x-ray detectors with dynamic electronic control and computational methods

WO2016118960 Art A1 28. Juli 2016

Anmelder: Rensselaer Polytechnic Institute 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016118960
Aktenzeichen: EP16740905
Anmeldetag: 25. Januar 2016
Veröffentlichung: 28. Juli 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01T1/36G01T1/29G01T1/15

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Rensselaer Polytechnic Institute
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Rensselaer Polytechnic Institute

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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