Fault detection and self-recovery method for crystal oscillator

WO2016119139 Art A1 4. August 2016

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016119139
Aktenzeichen: EP15879350
Anmeldetag: 28. Januar 2015
Veröffentlichung: 4. August 2016
Rechtsraum: WO
IPC: H03L7/00G06F11/07

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Software & Datenverarbeitung

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