X-ray diffraction microscope apparatus through phase adjustment and x-ray diffraction method

WO2016122079 Art A1 4. August 2016

Anmelder: Institute for Basic Science, Gwangju Institute of Science and Technology 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016122079
Aktenzeichen: EP15880259
Anmeldetag: 18. September 2015
Veröffentlichung: 4. August 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20G01N23/207

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Institute for Basic Science
Gwangju Institute of Science and Technology
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Gwangju Institute of Science and Technology

Das Gwangju Institute of Science and Technology ist eine staatliche technische Hochschule in Südkorea mit Schwerpunkt auf Natur- und Ingenieurwissenschaften. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Medizintechnik, ergänzt durch Mess- und Prüftechnik sowie organische Chemie. Anmeldungen reichen von 2004 bis in die Gegenwart.

485 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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