Method and apparatus for reticle optimization
WO2016128190
Art A1
18. August 2016
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016128190
- Aktenzeichen
- EP16701034
- Anmeldetag
- 20. Januar 2016
- Veröffentlichung
- 18. August 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F1/36G03F1/70
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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