Inspection device, laser processing device, and laser processing inspection method
WO2016129370
Art A1
18. August 2016
Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016129370
- Aktenzeichen
- EP16749015
- Anmeldetag
- 25. Januar 2016
- Veröffentlichung
- 18. August 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B23K26/00B29C59/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Omron Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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