Refractive index measuring device

WO2016132991 Art A1 25. August 2016

Anmelder: National University Corporation Shizuoka University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016132991
Aktenzeichen: EP16752377
Anmeldetag: 10. Februar 2016
Veröffentlichung: 25. August 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/41

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National University Corporation Shizuoka University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Shizuoka University

Die National University Corporation Shizuoka University ist eine staatliche japanische Universität mit Sitz in der Präfektur Shizuoka, bekannt für Forschung an bildgebenden Halbleitersensoren. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter- und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Nachrichtentechnik. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2000 bis 2024 ab.

256 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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