Automated analysis device

WO2016136377 Art A1 1. September 2016

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016136377
Aktenzeichen: EP16755127
Anmeldetag: 29. Januar 2016
Veröffentlichung: 1. September 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N35/02G01N21/03G01N21/15G01N35/10

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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