Semiconductor integrated circuit and delay measurement circuit

WO2016139958 Art A1 9. September 2016

Anmelder: National University Corporation Chiba University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016139958
Aktenzeichen: EP16758654
Anmeldetag: 4. März 2016
Veröffentlichung: 9. September 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28H01L21/822H01L27/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National University Corporation Chiba University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Chiba University

National University Corporation Chiba University ist die staatliche Trägerorganisation der japanischen Chiba-Universität mit Sitz in der Präfektur Chiba. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik sowie Pharma und Biotechnologie, ergänzt um Mess- und Prüftechnik und organische Chemie. Anmeldungen erfolgen seit 2005 bis in die Gegenwart.

393 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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