Electronic component conveying device, electronic component inspecting device, test piece for inspecting condensation or frosting, and method of inspecting condensation or frosting
WO2016147535
Art A1
22. September 2016
Anmelder: Seiko Epson Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016147535
- Aktenzeichen
- EP16764369
- Anmeldetag
- 4. Februar 2016
- Veröffentlichung
- 22. September 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/26G01N21/81
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Seiko Epson Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Epson
Japanisches Unternehmen, das Drucker, Scanner, Projektoren sowie Uhrwerke und Sensortechnik entwickelt und herstellt.
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