Chromatic aberration-free optical element-rotation type ellipsometer and method of measuring mueller-matrix of specimen using same

WO2016148422 Art A1 22. September 2016

Anmelder: Korea Research Institute Of Standards And Science 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016148422
Aktenzeichen: EP16765178
Anmeldetag: 8. März 2016
Veröffentlichung: 22. September 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01D21/00G01B11/06G01B11/24G01N21/21G01J4/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Research Institute Of Standards And Science
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Research Institute of Standards and Science

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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