Laminated optical film defect inspecting method, optical film defect inspecting method, and laminated optical film manufacturing method

WO2016152628 Art A1 29. September 2016

Anmelder: Sumitomo Chemical Company, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016152628
Aktenzeichen: EP16768531
Anmeldetag: 14. März 2016
Veröffentlichung: 29. September 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/892G01N21/896

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Sumitomo Chemical Company, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sumitomo Chemical

Japanischer Chemiekonzern mit Sitz in Tokio, Teil der Sumitomo-Gruppe. Aktiv in Petrochemie, Agrochemie, Pharmazeutika, Elektronikmaterialien, Energiematerialien und Kunststoffen.

4.352 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von