X-ray diffraction measuring device and x-ray diffraction measuring method
WO2016152654
Art A1
29. September 2016
Anmelder: Kyoto University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016152654
- Aktenzeichen
- EP16768557
- Anmeldetag
- 15. März 2016
- Veröffentlichung
- 29. September 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kyoto University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kyoto University
Renommierte japanische Universität mit breiter Grundlagenforschung in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.
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