Automatic system calibration method of x-ray ct

WO2016154136 Art A1 29. September 2016

Anmelder: Rensselaer Polytechnic Institute 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016154136
Aktenzeichen: EP16769514
Anmeldetag: 21. März 2016
Veröffentlichung: 29. September 2016
Rechtsraum: WO
IPC: A61B6/03

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Rensselaer Polytechnic Institute
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Rensselaer Polytechnic Institute

Das Rensselaer Polytechnic Institute ist eine private technische Universität mit Sitz in Troy, New York, und eine der ältesten technischen Hochschulen der USA. Das Patentportfolio streut breit über Medizintechnik, Halbleiter und Mess- und Prüftechnik, mit weiteren Anmeldungen in Pharma, Kunststofftechnik und Software. Anmeldungen decken den Zeitraum 2000 bis 2025 ab.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

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