Method for operating a test apparatus and a test apparatus
WO2016155830
Art A1
6. Oktober 2016
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016155830
- Aktenzeichen
- EP15714215
- Anmeldetag
- 1. April 2015
- Veröffentlichung
- 6. Oktober 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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