Quality measurement-based face recognition method and apparatus
WO2016163755
Art A1
13. Oktober 2016
Anmelder: Teracle Inc., Korea Advanced Institute of Science and Technology 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016163755
- Aktenzeichen
- EP16776858
- Anmeldetag
- 6. April 2016
- Veröffentlichung
- 13. Oktober 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06K9/00G07C9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Teracle Inc.
Korea Advanced Institute of Science and Technology - Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
KAIST
Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.
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