Quality measurement-based face recognition method and apparatus

WO2016163755 Art A1 13. Oktober 2016

Anmelder: Teracle Inc., Korea Advanced Institute of Science and Technology 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2016163755
Aktenzeichen
EP16776858
Anmeldetag
6. April 2016
Veröffentlichung
13. Oktober 2016
Rechtsraum
WO
IPC
G06K9/00G07C9/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Teracle Inc.
Korea Advanced Institute of Science and Technology
Land
🇰🇷 Südkorea
🇰🇷 KAIST

Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.

1.309 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen