Skin condition measurement analysis system and skin condition measurement analysis method
WO2016167053
Art A1
20. Oktober 2016
Anmelder: Hitachi Maxell, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016167053
- Aktenzeichen
- EP16779845
- Anmeldetag
- 9. März 2016
- Veröffentlichung
- 20. Oktober 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06Q50/10A61B5/00A61B5/107
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi Maxell, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi Maxell
Hitachi Maxell war ein japanischer Hersteller von Batterien, Speichermedien und Unterhaltungselektronik innerhalb der Hitachi-Gruppe. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Nachrichtentechnik und Telekommunikation sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Optik und Akustik. Anmeldungen stammen aus dem Zeitraum 2000 bis 2016.
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Vertreten von
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