X-ray recording material, method for manufacturing x-ray recording material, x-ray recording medium, recording method using x-ray recording medium, and method for measuring x-ray radiation dose
WO2016167278
Art A1
20. Oktober 2016
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016167278
- Aktenzeichen
- EP16780069
- Anmeldetag
- 13. April 2016
- Veröffentlichung
- 20. Oktober 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C09K9/00G01T1/04G21K4/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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Vertreten von
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