Systems and methods for super-resolution surface-layer microscopy using magnetic resonance

WO2016168517 Art A1 20. Oktober 2016

Anmelder: New York University 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016168517
Aktenzeichen: EP16780784
Anmeldetag: 14. April 2016
Veröffentlichung: 20. Oktober 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01B7/26G01B7/02G01B7/28G01R33/12G01R33/32G01R33/422G06F1/00

Offizieller Volltext

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Anmelder

Firma: New York University
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 New York University

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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