Method and apparatus for compensating offset drift with temperature

WO2016172228 Art A1 27. Oktober 2016

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016172228
Aktenzeichen: EP16783778
Anmeldetag: 20. April 2016
Veröffentlichung: 27. Oktober 2016
Rechtsraum: WO
IPC: H03M1/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik

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